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自动椭圆偏振测厚仪PCB抄板及反向案例

                                                                                                        自动椭圆偏振测厚仪
       佳创拥有十余年的反向技术研究经验,其研究对象涉及各领域的电子产品,现已有数百项仪器仪表设备成功案例,这是佳创的又一成功案例。在遵守保密原则的前提下,现将部分资料公布如下:

技术参数
测量范围:1nm~4000nm;
测量最小值:≤1nm;
镀膜折射率范围:1.3 ~ 2.49
入射角:40°~90°  误差≤0.05°;
偏振器方位角范围:0°~180°;
偏振器步进角:0.0375°/步;
仪器测量精度:在10nm处误差为±0.5nm;
光学中心高度:75㎜;
允许样品尺寸直径:Φ10~Φ120㎜,厚度≤10㎜;
外形尺寸:730 x230X 290;
主机重量:30kg;
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